在气体受用情况下，假设气体分子的截面积体积是一个常数，吸附的气体量与相对压力有关，通在等温状态下，如按照BET吸附理论进行测试，同时要考虑多层吸附现象射现象。数射角∈大约为十分之几度到几度的数量级，e与颗粒尺すd及X射线波长入的假定粉体粒子为均匀大小，则散射强度1与颗粒的重心转动惯量的回转半径R的关系为X射线波长约为0，1nm，而可测量的c为10-2～10-1rad，故可测的颗粒尺寸为几纳米到几十纳米。用此种方法测试时按GB/T13221-91《超细粉末粒度分布的测定X射线小角散射法》进行，从测试结果可知平均粒度和粒度分布曲线。X射线行射线线宽法用一般的表征方法测定得到的是颗粒尺寸，而颗粒不一定是单个品粒，而X射线行射线线宽法测定的是微细品粒尺す。同时，这种方法不仅可用于散颗粒的测定，也可用于品粒极细的米陶瓷的品粒大小的测定。当品粒度小于一定数量级时，由于每一个晶粒数目的减少，使得 Delve环宽化并漫射(同样使行射线条宽化)。
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